近幾年，伴隨著人工智能、大數據及物聯網等新一代信息技術的發(fā)展，全球半導體產業(yè)又迎來了一輪景氣周期。為了解決需求及供給不匹配的矛盾，我國正在大力發(fā)展半導體產業(yè)，以期實現國產替代。自2014年大基金實施以來，我國半導體全產業(yè)鏈得到了快速發(fā)展，未來也將不斷強化半導體產業(yè)地位。

隨著技術發(fā)展，半導體芯片晶體管密度越來越高，相關產品復雜度及集成度呈現指數級增長，這對于芯片設計及開發(fā)而言是前所未有的挑戰(zhàn)。另一方面，隨著芯片開發(fā)周期的縮短，對于流片的成功率要求非常高，任何一次失敗，對企業(yè)而言都是無法承受的。為此，在芯片設計及開發(fā)過程中，需要進行充分的驗證和測試。除此之外，半導體制程工藝不斷提升，需要面臨大量的技術挑戰(zhàn)，測試和驗證也變得更加重要。

如何進行半導體測試？

半導體測試主要是檢測半導體前道工藝和后道工藝。封裝加工工藝為：劃片、裝片、鍵合、塑封、去飛邊、電鍍、打印、切筋和成型外觀檢查 。前道查看晶圓表面上是不是存有影響良率的缺陷，確保將加工產線的良率控制在規(guī)定的水準之上。后道檢測主要運用于晶圓加工之后、IC 封裝環(huán)節(jié)內，是一種電性、功能性的檢測，用以檢查芯片是不是滿足性能要求。

半導體測試不論是前道還是后道都需要用到一種設備，X射線實時在線成像設備，通過X射線的成像原理，準確的檢測出缺陷，提升良品率等。

半導體在線X-ray檢測設備HT100L

HT100L適用于封裝工藝中的各種半導體封裝缺陷的檢測。配置有免維護的密封管型微焦點X射線管，使用壽命長，保養(yǎng)費用低；高分辨能力，最小可檢測出2um的缺陷；尺寸的測量：可以進行2點的距離測量，線與線之間的角度，弧度的測量自動進行計算；LED封裝氣泡率的測定：界限值設定完之后，根據自動計算，可將合格與不合格的產品辨別出來；探測器旋轉檢測，即時從垂直方向不容易發(fā)現的缺陷部位 ，也可通過切斜透視檢查出來；可根據客戶的要求、標準定制產品。

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