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芯片內部缺陷檢測,x-ray檢測設備來解決

2022-04-12

IC芯片是Integrated Circuit的縮寫,它的中文翻譯為集成電路,其主要構造是大量的微電子元器件如電阻、電容等形成的集成電路放在基板上,做成一塊芯片。目前我們常見的一些用于電腦,電視、手機中的芯片都可以叫做IC芯片。

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      由于IC芯片比較精密主要由微型電子器件或部件構成。采用一定的工藝,把一個電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上,然后封裝在一個管殼內,成為具有所需電路功能的微型結構;其中所有元件在結構上已組成一個整體,使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進了一大步。但越精密的電路,檢測難度就越復雜。當前芯片檢驗的常用方法通常是將芯片層層剝開,再用電子顯微鏡對每一層表面進行拍攝,這樣檢測方式對芯片具有極大破壞性,此時,X-ray無損檢測設備可提供解決方案。

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       X-RAY檢測主要使用的是X光機產生的X射線對芯片表面進行照射,由于X射線的穿透力極強,在穿透芯片之后能夠成像,這樣就能把芯片的內部缺陷一覽無遺了。此外,X光對芯片檢測是沒有任何的損傷的,因此,它也被稱之為無損探傷檢測。除了能夠對芯片進行檢測之外,鋰電池、LED燈珠、半導體等產品的缺陷檢測都是可以通過它來進行完美的檢測。

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